Park Systems Corp. พัฒนา ผลิต และจำหน่ายระบบ atomic force microscopy (AFM) ทั่วโลก โดยนำเสนอ AFM สำหรับงานวิจัย การวิเคราะห์พื้นผิว และ in-line metrology รวมถึงบริการ photomask repair, optical profilometry และ nano infrared spectroscopy บริษัทยังให้บริการ ellipsometry สำหรับการจำแนกลักษณะฟิล์มบาง ระบบ active vibration isolation และซอฟต์แวร์ เช่น Park SmartAnalysis, SmartScan และ SmartLitho ผลิตภัณฑ์ของบริษัทถูกใช้ในภาคส่วนเซมิคอนดักเตอร์ โพลิเมอร์ โลหะและเซรามิก ฟิล์มบาง วิทยาศาสตร์ชีวภาพ วัสดุ 2D วิศวกรรมพื้นผิว ฟิล์มแอนไอโซทรอปิก โฟโตนิกส์ และจอแสดงผล ตลอดจนการใช้งานเฉพาะของ AFM บริษัทเดิมชื่อ PSIA และเปลี่ยนชื่อเป็น Park Systems Corp. ในเดือนเมษายน 2007 ก่อตั้งขึ้นในปี 1997 และมีสำนักงานใหญ่ที่ Gwacheon-si ประเทศเกาหลีใต้